Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.

Lot 2 - Fourniture d'un nano-indenteur in situ. Plateforme d’indentation instrumentée qui peut s’installer dans un microscope électronique à balayage pour réaliser des essais de micro- et nano-mécanique in situ, afin de visualiser en direct les essais avec le microscope.

Lot 3 - Fourniture d'un système de métallisation et de dépôt carbone par tresse Carbone fonctionnant sous vide secondaire.

Lot 1 - Fourniture d'un microscope à « double faisceaux », c'est à dire un microscope électronique à balayage (MEB) équipé d'une colonne à faisceau d'ions focalisé.