EU-OV/2026-147VGV OFFEN
Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
- Ausschreibende Stelle
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Leistungsort
- Jena, Kreisfreie Stadt
- Angebotsfrist
- 27. Oktober 2026, 09:00 in 1 Tagen
- Leistung
- CPV 38000000
- Original
- Bekanntmachung öffnen
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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Lose
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| Los | Leistung | Ausführung |
|---|---|---|
| LOT-0001 | Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2. | — |
Vergabeunterlagen
Verfahren
- Verfahrensart
- VGV
- Veröffentlicht
- 22. September 2026
- Angebotsfrist
- 27. Oktober 2026, 09:00
Vergabestelle
- Stelle
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Kontakt
- vergabestelle@uni-jena.de
- Original
- Bekanntmachung auf dem Vergabeportal öffnen
Alle Angaben ohne Gewähr. Maßgeblich ist die Originalbekanntmachung der Vergabestelle.