ACQUISITION D'INSTRUMENTATION SCIENTIFIQUE

- Les microscopes électroniques à balayage (MEB) ; - Les microscopes électroniques en transmission (MET) ; - Les microscopes électroniques en transmission à balayage (STEM) ; - Les spectromètres de perte d’énergie pour la microscopie électronique (EELS) ; - Les microscopes à faisceau d’ions / sondes ioniques focalisées (FIB, SAT) ; - Les microscopes à double faisceau ionique et électronique (FIB/MEB) ; - Les microsondes électroniques (microsonde de Castaing / EPMA) ; - Les spectromètres d’électrons Auger (AES) ; - Les microsondes ioniques (SIMS / TOF-SIMS /…) ; - Les spectromètres à émission de rayons X à basse énergie (LEXES) ; - Les spectromètres de photoémission (XPS, UPS, APPES, HAXPES, ARPES, PEEM...) - Les spectromètres à perte d’énergie d’électrons (HREELS) ; - Les spectromètres de diffusion d’ions (ISS) ; - Serial block-face imaging ; - Détecteurs hyperspectraux de cathodoluminescence pour la microscopie électronique. S’agissant des MEB, sont expressément exclus les instruments dont la tension d'accélération est inférieure à 15KV.

- Les microscopes à champ proche sous environnement contrôlé : température et/ou pression et/ou milieu liquide ; - Les microscopes à champ proche multimodaux ; - Les microscopes à champ proche automatisés.

- Les systèmes de spectroscopie Raman - Les systèmes couplés spectroscopie Raman - microscopie en champ proche - Les systèmes couplés spectroscopie Raman - microscopie photonique - Les systèmes couplés spectroscopie Raman –Microscopie à Force Atomique (AFM) - Les systèmes couplés spectroscopie Raman - microscopie électronique - Les systèmes couplés spectroscopie Raman – ellipsométrie Sont expressément exclus les systèmes Raman dont la résolution est moins bonne que 3 cm-1.

- Les cytomètres en flux conventionnels :  Les analyseurs avec au moins trois lasers et/ou au moins 10 paramètres de détection  Les trieurs avec plus d'un laser et/ou plus de 4 paramètres de détection - Les systèmes de cytométrie spectrale ; - Les systèmes de cytométrie de masse ; - Les systèmes de cytrométrie en image.

- Les spectromètres RMN haute résolution ; - Les systèmes IRM à haut champ magnétique de recherche y compris pour l’imagerie du petit animal. Pour les spectromètres RMN haute résolution sont expressément exclus les instruments ayant une puissance de champ magnétique inférieure à 1 TESLA.

- Ensemble cristal ultrabas bruit (< 0.2 coup/min sur la plage 20 à 3000 keV) + cryostat ; - Chaîne complète de spectrométrie gamma à bas bruit de fond [HPGe], (électronique, froid, logiciels et blindage inclus) ; - Appareil à scintillation liquide ultrabas bruit. Pour les appareils à scintillation liquide ultrabas bruit, les appareils ne répondant pas aux critères suivants seront exclus :  Bruit de fond inférieur à 3 CPM pour H-3 ;  Limite de détection inférieure à 1Bq/l en moins de 8h de comptage ;  Taux de comptage jusqu’à 3999999 CPM avec MCA (analyseur multicanaux).

- Les spectromètres de masse triple quadrupole ; - Les spectromètres de masse à transformée de Fourier ; - Les spectromètres de masse tandem haute résolution ; - Les spectromètres de masse à mobilité ionique ; - Les spectromètres de masse à temps de vol (tandem ou Tof) ; - Les spectromètres de masse à plasma induit triple quadripôle ; - Les spectromètres de masse à thermo-ionisation (TIMS) avec analyseur à secteur magnétique et multi-collection. - Les spectromètres de masse à plasma induit (MC-ICPMS) avec analyseur à secteur magnétique et multi-collection. - Les spectromètres de masse à plasma induit avec analyseur à secteur magnétique. - Les spectromètres de masse à rapport isotopique (IRMS) Sont expressément exclus, les spectromètres de masse simple quadrupole y compris lorsqu’ils sont couplés avec un système de chromatographie ou un ICP.

- Les chaines lasers impulsionnelles accordables ou non accordables en longueur d’onde ; - Les lasers impulsionnels de forte puissance et/ou haute cadence ; - Les amplificateurs laser d’impulsions courtes (hors systèmes fibrés) ; - Les lasers impulsionnels d’impulsion courtes ; - Les lasers à stabiliser.

- Les systèmes avancés d’imagerie confocale, mono et multi photonique ; - Les systèmes avancés d’imagerie multiphotonique In-vivo ; - Les systèmes d’imagerie intégré et couplé à la microscopie à fluorescence pour les techniques avancées de fluorescence (FRAP, FLIM, FRET, SPIM, TIRF, HiLo, FCS, FCCS, …) ; - Les systèmes d’imagerie à super résolution (STED, PALM/STORM, SIM, …) ; - Les systèmes d’imagerie /criblage de fluorescence à haut contenu et haut débit ; - Systèmes d’imagerie par illumination en feuillet(s) ; - Systèmes d’imagerie sans marquage : Imagerie quantitative de phase, imagerie de polarisation, (CARS et FTIR ayant leur propre lot n°4 : Systèmes Raman y compris couplés à la microscopie, mais pouvant être intégrées ici) ; - Systèmes d’imagerie par photo-manipulation : pinces optiques, ablation, optogénétiques, … ; - Les scanners de lames ultra haut débit ; - Les systèmes d’imagerie hyperspectral (couplage visible et infra rouge).

- Les diffractomètres complets de rayons X pour mesures sur cristaux, poudres et films ; - Les appareils de diffusion des rayons X ; - Les systèmes générateurs de rayons X (à anode tournante, continus, pulsés...) ; - Les systèmes avancé de scanographie (TDM) (scanners X / scanners micro-CT (computed tomography),…) ; - Les systèmes avancé d’imagerie nucléaire (systèmes de tomographie par émission de positions (PET-scan)),…) ; - Les appareils de fluorescence X : WDX (spectroscopie de rayons X à dispersion en longueur d’onde), et EDX (spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie). Pour les diffractomètres sont exclus les appareils de paillasse. Pour les appareils de fluorescence X sont expressément exclus les appareils portables (PXRF). Pour les appareils de fluorescence X de type WDX, sont exclus les appareils dont la puissance minimale est inférieure à 400 W. Pour les appareils de fluorescence X sont exclus de l’accord cadre les appareils de type EDX ayant une résolution spatiale moins bonne que 50 micromètres. Sont également exclus les appareils n’ayant pas la capacité de cartographier les échantillons automatiquement.