EU-OV/2026-147VGV OUVERT
Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
- Autorité contractante
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Lieu d'exécution
- Jena, Kreisfreie Stadt
- Date de soumission
- 27. Oktober 2026, 09:00 dans 1 jours
- Prestation
- CPV 38000000
- Original
- Ouvrir l'avis
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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Lots
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| Lot | Prestation | Exécution |
|---|---|---|
| LOT-0001 | Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2. | — |
Documents de l’appel d’offres
Procédure
- Type de procédure
- VGV
- Publié
- 22. September 2026
- Date de soumission
- 27. Oktober 2026, 09:00
Acheteur
- Service
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Contact
- vergabestelle@uni-jena.de
- Original
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