PR1251693-2270-WVGV OUVERT
SOC-Testsystem - PR1251693-2270-W
- Autorité contractante
- Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
- Lieu d'exécution
- Regensburg, Kreisfreie Stadt
- Date de soumission
- 07. September 2026, 08:00 dans 3 jours
- Prestation
- CPV 31000000
- Original
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Description du projet
SOC-Testsystem
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Lots
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| Lot | Prestation | Exécution |
|---|---|---|
| LOT-0000 | SOC-Testsystem - PR1251693-2270-W This specification describes the requirements for a semiconductor test system (mixed-signal test system) to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The test system must provide interfaces that allow connection with an industrial standard wafer probing system as well as with an industrial standard device handling system. The test system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft. | — |
Documents de l’appel d’offres
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Procédure
- Type de procédure
- VGV
- Publié
- 06. August 2026
- Date de soumission
- 07. September 2026, 08:00
Acheteur
- Service
- Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
- Contact
- einkauf@zv.fraunhofer.de
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